Scanning tunnelling microscopy and spectroscopy of nanocrystalline silicon films

  1. Nogales, E.
  2. Méndez, B.
  3. Piqueras, J.
  4. Plugaru, R.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 2001

Volumen: 16

Número: 9

Páginas: 789-792

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/16/9/309 GOOGLE SCHOLAR
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