A microspectroscopic study of cap damage in annealed RE-doped AlN-capped GaN

  1. Nogales, E.
  2. Lorenz, K.
  3. Wang, K.
  4. Roqan, I.S.
  5. Martin, R.W.
  6. O'Donnell, K.P.
  7. Alves, E.
  8. Ruffenach, S.
  9. Briot, O.
Actas:
Materials Research Society Symposium Proceedings

ISSN: 0272-9172

ISBN: 9781558998469

Año de publicación: 2006

Volumen: 892

Páginas: 625-630

Tipo: Aportación congreso