Fe/Si(111) interface formation studied by photoelectron diffraction
- Avila, J.
- Mascaraque, A.
- Teodorescu, C.
- Michel, E.G.
- Asensio, M.C.
Revista:
Surface Science
ISSN: 0039-6028
Ano de publicación: 1997
Volume: 377-379
Páxinas: 856-860
Tipo: Artigo