Goodness of fit tests with misclassified data based on φ-divergences

  1. Pardo, L.
  2. Zografos, K.
Zeitschrift:
Biometrical Journal

ISSN: 0323-3847

Datum der Publikation: 2000

Ausgabe: 42

Nummer: 2

Seiten: 223-237

Art: Artikel

DOI: 10.1002/(SICI)1521-4036(200005)42:2<223::AID-BIMJ223>3.0.CO;2-T GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus