Evaluation of the sensitivity of a COTS 90-nm SRAM memory at low bias voltage

  1. Clemente, J.A.
  2. Hubert, G.
  3. Franco, F.J.
  4. Villa, F.
  5. Baylac, M.
  6. Mecha, H.
  7. Velazco, R.
Konferenzberichte:
Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS

ISBN: 9781509043668

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 2016-September

Seiten: 1-4

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/RADECS.2016.8093183 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus