Single events in a COTS soft-error free SRAM at low bias voltage induced by 15-MeV neutrons

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 63

Nummer: 4

Seiten: 2072-2079

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TNS.2016.2522819 GOOGLE SCHOLAR

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