High-level allocation to minimize internal hardware wastage

  1. Molina, M.C.
  2. Mendias, J.M.
  3. Hermida, R.
Actes:
Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE

ISSN: 1530-1591

Any de publicació: 2003

Pàgines: 264-269

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/DATE.2003.1253618 GOOGLE SCHOLAR