Comparison of the susceptibility to soft errors of SRAM-Based FPGA error correction codes implementations

  1. Liu, S.
  2. Sorrenti, G.
  3. Reviriego, P.
  4. Casini, F.
  5. Maestro, J.A.
  6. Alderighi, M.
  7. Mecha, H.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 59

Nummer: 3 PART 2

Seiten: 619-624

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TNS.2012.2193417 GOOGLE SCHOLAR
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