Amorphous/crystalline silicon interface characterization by capacitance and conductance measurements

  1. Garcia-Hernansanz, R.
  2. Garcia-Hemme, E.
  3. Montero-Alvarez, D.
  4. Del Prado, A.
  5. Martil, I.
  6. Gonzalez-Diaz, G.
  7. Olea, J.
Actas:
Proceedings of the 2015 10th Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2015

ISBN: 9781479981083

Año de publicación: 2015

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/CDE.2015.7087502 GOOGLE SCHOLAR
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