UV and visible Raman scattering of ultraheavily Ti implanted Si layers for intermediate band formation

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Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242 1361-6641

Datum der Publikation: 2011

Ausgabe: 26

Nummer: 11

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/26/11/115003 GOOGLE SCHOLAR