Advantages and disadvantages of PIXE/PIGE, XRF and EDX spectrometries applied to archaeometric characterisation of glasses

  1. Carmona, N.
  2. Ortega-Feliu, I.
  3. Gómez-Tubío, B.
  4. Villegas, M.A.
Revista:
Materials Characterization

ISSN: 1044-5803

Any de publicació: 2010

Volum: 61

Número: 2

Pàgines: 257-267

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.MATCHAR.2009.12.006 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus