Defect assessment of Mg-doped GaN by beam injection techniques

  1. Díaz-Guerra, C.
  2. Piqueras, J.
  3. Castaldini, A.
  4. Cavallini, A.
  5. Polenta, L.
Aldizkaria:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Argitalpen urtea: 2003

Alea: 94

Zenbakia: 12

Orrialdeak: 7470-7475

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.1628832 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus