Electrical and optical characterization of GaN HVPE layers related to extended defects

  1. Castaldini, A.
  2. Cavallini, A.
  3. Polenta, L.
  4. Díaz-Guerra, C.
  5. Piqueras, J.
Revista:
Journal of Physics Condensed Matter

ISSN: 0953-8984

Año de publicación: 2002

Volumen: 14

Número: 48

Páginas: 13095-13104

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0953-8984/14/48/355 GOOGLE SCHOLAR
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