Spectroscopic ellipsometry of intentionally disordered superlattices

  1. Domínguez-Adame, F.
  2. Hey, R.
  3. Bellani, V.
  4. Parravicini, G.B.
  5. Diez, E.
Revue:
Microelectronics Journal

ISSN: 0026-2692

Année de publication: 2004

Volumen: 35

Número: 1

Pages: 59-61

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1016/S0026-2692(03)00223-4 GOOGLE SCHOLAR
La source de données: Scopus