Self-consistent analysis of electric field effects on Si delta -doped GaAs

  1. Cuesta, J.A.
  2. Sánchez, A.
  3. Dominguez-Adame, F.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 1995

Volumen: 10

Número: 10

Páginas: 1303-1309

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/10/10/002 GOOGLE SCHOLAR
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