Inactivity windows in irradiated CMOS analog switches

  1. Franco, F.J.
  2. Zong, Y.
  3. Agapito, J.A.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 53

Nummer: 4

Seiten: 1923-1930

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/TNS.2006.880474 GOOGLE SCHOLAR

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