Inactivity windows in irradiated CMOS analog switches

  1. Franco, F.J.
  2. Zong, Y.
  3. Agapito, J.A.
Revue:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Année de publication: 2006

Volumen: 53

Número: 4

Pages: 1923-1930

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/TNS.2006.880474 GOOGLE SCHOLAR

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