Procedure for accurate noise measurements of one port devices with high reflection coefficients

  1. Miranda, Jose Miguel
  2. Sebastian, Jose Luis
  3. Krozer, Viktor
  4. Grub, Andreas
Konferenzberichte:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

ISBN: 0780317793

Datum der Publikation: 1994

Ausgabe: 2

Seiten: 1065-1067

Art: Konferenz-Beitrag

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Datenquelle: Scopus