Procedure for accurate noise measurements of one port devices with high reflection coefficients

  1. Miranda, Jose Miguel
  2. Sebastian, Jose Luis
  3. Krozer, Viktor
  4. Grub, Andreas
Actes de conférence:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

ISBN: 0780317793

Année de publication: 1994

Volumen: 2

Pages: 1065-1067

Type: Communication dans un congrès

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