Hydrogen-related hole capture and positive charge build up in buried oxides

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  5. Balk, P.
Revue:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Année de publication: 2002

Volumen: 46

Número: 11

Pages: 1775-1785

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1016/S0038-1101(02)00150-8 GOOGLE SCHOLAR

Objectifs de Développement Durable

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