New developments in charge pumping measurements on thin stacked dielectrics

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 55

Nummer: 11

Seiten: 3184-3191

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TED.2008.2005129 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus