Atomic resolution mapping of inequivalent O sites in complex oxides

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Año de publicación: 2009

Volumen: 15

Número: SUPPL. 2

Páginas: 434-435

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S1431927609092629 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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