Aberration-corrected STEM - More than just higher resolution

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Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 12

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 132-133

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927606069650 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus