In situ roughness measurements for the solar cell industry using an atomic force microscope

  1. González-Jorge, H.
  2. Alvarez-Valado, V.
  3. Valencia, J.L.
  4. Torres, S.
Revista:
Sensors

ISSN: 1424-8220

Año de publicación: 2010

Volumen: 10

Número: 4

Páginas: 4002-4009

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/S100404002 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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