Electronic speckle pattern interferometry technique for the measurement of complex mechanical structures for aero-spatial applications
- Restrepo, R.
- Uribe-Patarroyo, N.
- Garranzo, D.
- Pintado, J.M.
- Frovel, M.
- Belenguer, T.
ISSN: 0277-786X
ISBN: 9780819476708
Any de publicació: 2010
Volum: 7387
Tipus: Aportació congrés