Experimental study of the hot-carrier impact ionization photovoltaic effect in pulsed-CO2-laser-excited silicon junctions

  1. Encinas-Sanz, F.
  2. Marín, M.
  3. Guerra, J.M.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 2001

Volumen: 16

Número: 6

Páginas: 463-466

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/16/6/307 GOOGLE SCHOLAR
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