Comparison between optical techniques and confocal microscopy for defect detection on thin wires
- Siegmann, P.
- Sanchez-Brea, L.M.
- Martinez-Anton, J.C.
- Bernabeu, E.
ISSN: 0169-4332
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 238
Nummer: 1-4 SPEC. ISS.
Seiten: 375-379
Art: Konferenz-Beitrag