Atomic resolution STEM-EELS studies of defects and local structural distortions in oxide interfaces

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  12. Santamaria, J.
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Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 23

Seiten: 372-373

Art: Note

DOI: 10.1017/S1431927617002549 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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