Water adsorption in porous TiO2-SiO2 sol-gel films analyzed by spectroscopic ellipsometry

  1. Alvarez-Herrero, A.
  2. Ramos, G.
  3. Del Monte, F.
  4. Bernabeu, E.
  5. Levy, D.
Revue:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Année de publication: 2004

Volumen: 455-456

Pages: 356-360

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1016/J.TSF.2004.01.023 GOOGLE SCHOLAR
La source de données: Scopus