Water adsorption in porous TiO2-SiO2 sol-gel films analyzed by spectroscopic ellipsometry

  1. Alvarez-Herrero, A.
  2. Ramos, G.
  3. Del Monte, F.
  4. Bernabeu, E.
  5. Levy, D.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Ano de publicación: 2004

Volume: 455-456

Páxinas: 356-360

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1016/J.TSF.2004.01.023 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus