Single Event Upsets under 14-MeV Neutrons in a 28-nm SRAM-Based FPGA in Static Mode

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Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 1558-1578,  0018-9499

Año de publicación: 2020

Volumen: 67

Número: 7

Páginas: 1461-1469

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2020.2977874 GOOGLE SCHOLAR
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