Exploiting electron parity violation: From Standard Model tests to dark matter detection predictions
- Moreno, O.
- Donnelly, T.W.
ISSN: 1742-6596, 1742-6588
Any de publicació: 2020
Volum: 1643
Número: 1
Tipus: Aportació congrés
ISSN: 1742-6596, 1742-6588
Any de publicació: 2020
Volum: 1643
Número: 1
Tipus: Aportació congrés