Exploiting electron parity violation: From Standard Model tests to dark matter detection predictions
- Moreno, O.
- Donnelly, T.W.
ISSN: 1742-6596, 1742-6588
Datum der Publikation: 2020
Ausgabe: 1643
Nummer: 1
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 1742-6596, 1742-6588
Datum der Publikation: 2020
Ausgabe: 1643
Nummer: 1
Art: Konferenz-Beitrag