Robust estimators for one-shot device testing data under gamma lifetime model with an application to a tumor toxicological data
- Balakrishnan, N.
- Castilla, E.
- Martín, N.
- Pardo, L.
ISSN: 1435-926X, 0026-1335
Any de publicació: 2019
Volum: 82
Número: 8
Pàgines: 991-1019
Tipus: Article