Defect inspection by an active 3D multiresolution technique

  1. Vargas, J.
  2. Quiroga, J.A.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819473981

Any de publicació: 2008

Volum: 7155

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.814516 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus