Three-dimensional measurement of microchips using structured light techniques

  1. Vargas, J.
  2. Koninckx, T.
  3. Quiroga, J.A.
  4. Gool, L.V.
Zeitschrift:
Optical Engineering

ISSN: 0091-3286 1560-2303

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 47

Nummer: 5

Art: Artikel

DOI: 10.1117/1.2919726 GOOGLE SCHOLAR