Characterization of thin silicon overlayers on rutile TiO2 (110 ) - (1×1 )

  1. Abad, J.
  2. Gonzalez, C.
  3. De Andres, P.L.
  4. Roman, E.
Revista:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

ISSN: 1098-0121,  1550-235X

Año de publicación: 2010

Volumen: 82

Número: 16

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVB.82.165420 GOOGLE SCHOLAR
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