Optoelectronic device for the measurement of the absolute linear position in the micrometric displacement range

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Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2005

Volumen: 5840 PART II

Páginas: 862-870

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.628135 GOOGLE SCHOLAR
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