Impact of the bitcell topology on the multiple-cell upsets observed in VLSI nanoscale SRAMs
- Clemente, J.A.
- Hubert, G.
- Rezaei, M.
- Franco, F.J.
- Mecha, H.
ISSN: 1558-1578, 0018-9499
Any de publicació: 2021
Volum: 68
Número: 9
Pàgines: 2383-2391
Tipus: Article