Soft X-Ray microscopic investigation on self assembling nanocrystals

  1. Benk, M.
  2. Bergmann, K.
  3. Querejeta-Fernández, A.
  4. Srivastava, S.
  5. Kotov, N.A.
  6. Schaefer, D.
  7. Wilhein, T.
Konferenzberichte:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735409255

Datum der Publikation: 2010

Ausgabe: 1365

Seiten: 433-436

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1063/1.3625395 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
Datenquelle: Scopus