Detection of surface defects on thin metallic wires by geometric conical diffraction

  1. Sánchez-Brea, L.M.
  2. Siegmann, P.
  3. Bernabeu, E.
  4. Rebollo, M.A.
  5. Pérez-Quintián, F.
  6. Raffo, C.A.
Zeitschrift:
Wire Journal International

ISSN: 0277-4275

Datum der Publikation: 2000

Ausgabe: 33

Nummer: 8

Seiten: 124-127

Art: Artikel