Detection of surface defects on thin metallic wires by geometric conical diffraction

  1. Sánchez-Brea, L.M.
  2. Siegmann, P.
  3. Bernabeu, E.
  4. Rebollo, M.A.
  5. Pérez-Quintián, F.
  6. Raffo, C.A.
Aldizkaria:
Wire Journal International

ISSN: 0277-4275

Argitalpen urtea: 2000

Alea: 33

Zenbakia: 8

Orrialdeak: 124-127

Mota: Artikulua

GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus