Workload-Aware Electromigration Analysis in Emerging Spintronic Memory Arrays

  1. Nair, S.M.
  2. Mayahinia, M.
  3. Tahoori, M.B.
  4. Perumkunnil, M.
  5. Zahedmanesh, H.
  6. Croes, K.
  7. Garello, K.
  8. Marinelli, T.
  9. Evenblij, T.
  10. Kar, G.S.
  11. Catthoor, F.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1558-2574,  1530-4388

Any de publicació: 2021

Volum: 21

Número: 2

Pàgines: 258-266

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TDMR.2021.3074251 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus