Fault-tolerant protection of near-term trapped-ion topological qubits under realistic noise sources

  1. Bermudez, A.
  2. Xu, X.
  3. Gutiérrez, M.
  4. Benjamin, S.C.
  5. Müller, M.
Zeitschrift:
Physical Review A

ISSN: 2469-9934,  2469-9926

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 100

Nummer: 6

Art: Artikel

DOI: 10.1103/PHYSREVA.100.062307 GOOGLE SCHOLAR

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