Fault-tolerant protection of near-term trapped-ion topological qubits under realistic noise sources

  1. Bermudez, A.
  2. Xu, X.
  3. Gutiérrez, M.
  4. Benjamin, S.C.
  5. Müller, M.
Aldizkaria:
Physical Review A

ISSN: 2469-9934,  2469-9926

Argitalpen urtea: 2019

Alea: 100

Zenbakia: 6

Mota: Artikulua

DOI: 10.1103/PHYSREVA.100.062307 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus