Analytical electron microscopic studies and positron lifetime measurements in Al-doped MgO crystals

  1. Pedrosa, M.A.
  2. Pareja, R.
  3. González, R.
  4. Abraham, M.M.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1987

Volumen: 62

Número: 2

Páginas: 429-433

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.339816 GOOGLE SCHOLAR