MCU Tolerance in SRAMs Through Low-Redundancy Triple Adjacent Error Correction

  1. Saiz-Adalid, L.-J.
  2. Reviriego, P.
  3. Gil, P.
  4. Pontarelli, S.
  5. Maestro, J.A.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Datum der Publikation: 2015

Ausgabe: 23

Nummer: 10

Seiten: 2332-2336

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TVLSI.2014.2357476 GOOGLE SCHOLAR
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