Impact of Dynamic Voltage Scaling on SEU Sensitivity of COTS Bulk SRAMs and A-LPSRAMs Against Proton Radiation

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Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 1558-1578,  0018-9499

Año de publicación: 2022

Volumen: 69

Número: 2

Páginas: 126-133

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2022.3140473 GOOGLE SCHOLAR
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