PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY OF THE Si/Eu INTERFACE USING SYNCHROTRON RADIATION.

  1. Nogami, J.
  2. Carbone, C.
  3. Yeh, J.J.
  4. Lindau, I.
  5. Nannarone, S.
Actas:
Proceedings of the 17th International Conference on the Physics of Semiconductors.

ISBN: 9780387961088

Año de publicación: 1985

Páginas: 201-204

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1007/978-1-4615-7682-2_43 GOOGLE SCHOLAR
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