Non-invasive testing of physical systems using topological sensitivity

  1. Higuera, M.
  2. Perales, J.M.
  3. Rapún, M.-L.
  4. Vega, J.M.
Aldizkaria:
Applied Sciences (Switzerland)

ISSN: 2076-3417

Argitalpen urtea: 2021

Alea: 11

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 1-16

Mota: Artikulua

DOI: 10.3390/APP11031341 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus